- 硅料與硅片品質(zhì)提升解決方案
- 電池片與組件品質(zhì)提升解決方案
- 太陽能電站品質(zhì)提升解決方案
- 藍寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
- 耗材輔料品質(zhì)提升解決方案
- Newsletter
解決方案 >> 藍寶石和碳化硅品質(zhì)提升解決方案
-
晶體表面油污檢測及處理方案
晶片表面有油污，很難以檢測到，即便用KLA也難以判斷，這主要是有檢測原理決定的。有污染的晶片若被應用的外延，就會嚴重影響到LED的品質(zhì)，使成品率下降。所以，如果要排除污染，就必須有一個專業(yè)的設(shè)備進行探測與判斷。
-
平整度檢測方案
平整度是晶片很重要的參數(shù)，直接決定了片子合格與否，檢測平整度的方法很多，但目前看來國際還是依托于SEMI標準。參數(shù)的定義，檢測的精度都是需要認真考慮的。
-
藍寶石與碳化硅腐蝕方案
腐蝕工藝直接決定了檢測位錯的結(jié)果，關(guān)鍵的一點可能會讓您少走很多的彎路，敬請關(guān)注。
-
藍寶石光學等級評估
光學晶體等級一般分六級，如何進行評估，怎么評估？這不光需要專業(yè)的檢測設(shè)備，還有就是一線檢測經(jīng)驗。
-
碳化硅工藝流程及檢測方案
碳化硅工藝流程及檢測方案
-
藍寶石整體檢測方案
工藝流程及涉及的檢測設(shè)備
共 6 條 1/1頁 [首頁] [上頁] [下頁] [末頁]
版權(quán)所有：2008-2050合能陽光 京ICP備18015141號-1